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產品型號：CLP-50
更新時間：2024-07-10簡要描述：bunkoukeiki顯微成像光譜儀CLP-50緊湊、輕便、明亮的高分辨率單色儀，焦距為 100 mm。
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 1萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 光柵數量 | 雙光柵 | 產地類別 | 國產 |
| 應用系統 | 透射/反射光譜 | 應用領域 | 環保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
bunkoukeiki顯微成像光譜儀CLP-50
bunkoukeiki顯微成像光譜儀CLP-50
(1) 過濾器手動切換支架（手動滑動式，最多可安裝6個過濾器）
(2) 入射狹縫千分尺（狹縫顯示，最小刻度10μm，寬度0～4mm可變）
(3) V型孔徑（最小刻度1mm，入射狹縫高度1-20mm可變）
④ 波長計數器刻度盤
(5) 光譜儀上蓋
⑥出口狹縫千分尺（狹縫顯示，最小刻度10μm，寬度0～4mm可變）
⑦ 千分表條
波長顯示由波長刻度盤（3位）和位于刻度盤右側的波長顯示刻度盤籠條（ 1μm或更多位）組成。
如果千分表條在機身內部，請按原樣讀取千分表顯示。
（例：500→500nm ）
如果千分表棒從主體突出，則計數器的讀數增加1000 。
* 圖中顯示為直讀1200線/mm衍射光柵。600行雙讀，300行四讀，150行八讀。
分辨率為1.0nm（1200線/mm），波長精度為±1.0nm，在同類產品中性能最佳。
由于衍射光柵可以更換，因此可以在200nm到25μm的寬波長范圍內使用，更換安裝的再現性也很好。
采用大有效面積的衍射光柵，光學系統在F=3.0時亮度高，像差小。
機構和操作簡單而堅固，因此耐沖擊和振動，狹縫機構幾乎沒有反沖，因此可以進行高精度測量。
由于入射狹縫和出射狹縫配置在相反的兩側，因此很容易組合其他光學系統和特殊附件，并且可以創建滿足預期用途的分光系統。
通過安裝步進電機波長驅動器（選項），可以使用外部脈沖信號或 GP-IB 進行控制。
由于同步發射波長范圍較寬，可以安裝多通道檢測器（選件）。
小巧輕便，不占用大量安裝空間。它也很容易攜帶。
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