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產品型號：SF-3
更新時間：2024-07-12簡要描述：日本otsukael光譜干涉式晶圓測厚儀SF-3通過光學方法可以進行非接觸式和非破壞性的厚度測量。實現高測量再現性可實時高速監控拋光實現了長 WD（工作距離）并且易于集成到設備中從主機設備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進行控制可以進行多層厚度測量可測量臨時晶圓（臨時鍵合晶圓）各層厚度
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區間 | 20萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
日本otsukael光譜干涉式晶圓測厚儀SF-3
日本otsukael光譜干涉式晶圓測厚儀SF-3的介紹
深圳九州工業品有限公司成立于2016年，坐落于年輕奮進的深圳市，是一家工業品綜合服務商。主要包括機電設備、電子產品、儀器儀表、工業器材的銷售及其它國內貿易、經營進出口等業務。聯合國際名品牌搭建工業品供應鏈，采用與 MRO分銷商結盟的方式，把零散采購訂單集中處理，流程簡化，提供一站式供應服務。在美國、德國、日本、韓國、中國臺灣建立采購中心，以流的專業國際采購團隊、技術顧問、銷售團隊為各種領域提供各類高品質的工業產品和優質的整合服務。通過與廠家建立快捷、有效的溝通，和眾多國外生產廠家建立了長久合作伙伴關系。
通過光學方法可以進行非接觸式和非破壞性的厚度測量。
實現高測量再現性
可實時高速監控拋光
實現了長 WD（工作距離）并且易于集成到設備中
從主機設備使用 LAN 通過 TCP/IP 通信進行控制
可以進行多層厚度測量
可測量臨時晶圓（臨時鍵合晶圓）各層厚度
實現顯微鏡下寬測量波長范圍（紫外到近紅外）的光學系統
區域傳感器安全機制
一個簡單的分析向導，即使是初次使用的用戶也可以進行光學常數分析
配備可自定義測量順序的宏功能
也可以分析復雜的光學常數（多點分析法）
300mm載物臺兼容
支持各種自定義
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